IEC 60191-1C-1974 半导体器件的机械标准化第1部分:半导体器件图形绘制补充3

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 04:16:57  浏览:8460   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices.Part1:Preparationofdrawingsofsemiconductordevices.
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化第1部分:半导体器件图形绘制补充3
【标准号】:IEC60191-1C-1974
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1974
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;外壳;作标记;尺寸;电气工程;半导体器件;电气外壳;符号;半导体;电子设备及元件;电子工程
【英文主题词】:Dimensions;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Integratedcircuits;Marking;Semiconductordevices;Semiconductors;Symbols
【摘要】:SupplementsIEC191-1representingAppendixH,rulestospecifythedimensionsandthepositionsoftheterminalsonabasedrawing,providingtwodetailedexamples.
【中国标准分类号】:L04;L40
【国际标准分类号】:01_080_40;31_080_01
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语